日本大塚otsuka MINUK 3D顯微鏡

MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。可評價nｍ級的透明的異物?缺陷 一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息 無需對焦，可高速測量 可非破壞?非接觸?非侵入的測量 可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。可以非接觸、非破壞性、非侵入性地獲得nm級的形狀信息。通過一次拍照即可獲取深度方向的信息，可以將透明薄膜表面上肉眼不可見的劃痕和缺陷的橫截面形狀數值化實現可視化。肉眼無法看到的透明薄膜內部的填充劑，通過一次拍照即可觀察到。此外，通過在測量后改變深度方向的焦點，可以識別到各個深度的填充劑。日本大塚otsuka MINUK 3D顯微鏡

可攜帶至現場的手持式，可測量0.1μm單位，具有形狀的樣品也可非破壞的測量。 不論基材材質、可測量其鍍膜。與桌上型光學膜厚儀相比，Smart膜厚儀在“現場"以非破壞式直接量測樣品，且可以量測特殊形狀樣品。與接觸式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品，也不會因為用戶不同而產生誤差且遠高于接觸式膜厚計的量測精度。與渦電流/電磁式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不需要制作檢量線，且可以量測非金屬基材并且得到絕對值！

ZETA電位·粒徑·分子量測試系統·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴大了生命科學領域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。