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日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng) ● nanoSAQLA是一臺(tái)通過動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測(cè)定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了實(shí)驗(yàn)室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測(cè)定。 另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動(dòng)取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測(cè)量”的新產(chǎn)品。

日本大塚otsuka MINUK 3D顯微鏡 MINUK可評(píng)價(jià)nｍ級(jí)的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無需對(duì)焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置。

日本大塚otsuka 顯微分光膜厚儀 OPTM ● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測(cè)試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對(duì)反射率的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測(cè)試，并有可針對(duì)透明基板去除背面反射，從而達(dá)到“真實(shí)反射率、膜厚”測(cè)試的目的。此外，軟件操作簡(jiǎn)單、使用方便且簡(jiǎn)化了復(fù)雜的建模流程。...

日本大塚otsuka SMART光學(xué)膜厚計(jì)測(cè)厚儀與桌上型光學(xué)膜厚儀相比，Smart膜厚儀在“現(xiàn)場(chǎng)”以非破壞式直接量測(cè)樣品，且可以量測(cè)特殊形狀樣品。與接觸式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不僅不會(huì)破壞您的樣品，也不會(huì)因?yàn)橛脩舨煌a(chǎn)生誤差且遠(yuǎn)高于接觸式膜厚計(jì)的量測(cè)精度。